介損測(cè)量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的最基本方法。LF6900B 介質(zhì)損耗測(cè)試儀突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；電源采用大功率開(kāi)關(guān)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dòng)加壓，可提供最高10千伏的電壓；自動(dòng)濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。

變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

準(zhǔn)確度： Cx:  ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biāo)：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍： 內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV  60pF～1μF/0.5kV

外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV  60pF～30μF/0.5kV

分辨率：  最高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

試驗(yàn)電流范圍：5μA～5A

內(nèi)施高壓： 設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV 

最大輸出電流：200mA

升降壓方式：電壓隨意設(shè)置。比如5123V。

試驗(yàn)頻率： 40-70Hz單頻隨意設(shè)置。比如48.7Hz.

50±0.1Hz到50±10Hz自動(dòng)雙變頻隨意設(shè)置。

60±0.1Hz到60±10Hz自動(dòng)雙變頻隨意設(shè)置。

頻率精度： ±0.01Hz

外施高壓： 正接線(xiàn)時(shí)最大試驗(yàn)電流5A，工頻或變頻40-70Hz

反接線(xiàn)時(shí)最大試驗(yàn)電流10kV/5A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

測(cè)量時(shí)間： 約40s，與測(cè)量方式有關(guān)

輸入電源： 180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電

計(jì)算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，U盤(pán)插口(自動(dòng)U盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù))。

打印機(jī)：微型熱敏打印機(jī)   環(huán)境溫度：-10℃～50℃   相對(duì)濕度： <90%

外形尺寸：500mm*377mm*330mm   儀器重量：28kg